最近有一篇關於SSD固態硬盤數據可靠性的文章很流行，說是希捷的一位工程師Alvin Cox研究發現固態硬盤在不通電的情況下數據會隨著時間流失，而且溫度對SSD可靠性也有非常大的影響，最後總結道大多數SSD的可靠年限只有2年，建議重要數據不要用SSD保存。權威專家+可怕的後果+危言聳聽的寫法——這簡直是完美的QQ空間以及現在的微信圈范本，尼瑪，什麼時候這也擴散到DIY圈子了？
雖然現在大家都知道了SSD的好處了，但SSD始終繞不開的一個問題就是數據可靠性，先天性的P/E操作既給了SSD超強的性能，也給它帶來了隱患——數據壽命是有限的，升級帶TLC會導致壽命減少，升級到更先進的制程也會導致壽命減少，不明真相的人民群眾難免要懷疑SSD的壽命了，這本來很合理，但前面提到的那個SSD不通電都能導致數據流失的傳聞是真的嗎？
一個成功的謠言絕不會100%都是錯誤的，高明的撒謊者總會三分真中摻雜七分假，前面這個謠言也是如此——SSD不通電會流失數據以及溫度對SSD壽命有影響的說法是對的，但把這個影響誇張到如此地步就不對了，Anandtech網站現在就出了一個打臉辟謠文章。
首先是前面那個報告作者Alvin Cox的身份，這篇報告並不是出自希捷公司的，而是JEDEC組織，Alvin Cox曾是JC-64.8標准小組（也就是SSD委員會）的主席，不過有一點是正確的——Alvin Cox本人確實是希捷公司資深工程師，只不過這跟他發表報告無關，JEDEC組織本身就是廠商們的聯合組織，成員來自不同廠商是很正常的事，目前JC-64.8標准小組是HGST公司的Frank Chu領導的。
在回答前面有關SSD數據保留問題之前，我們先來了解下廠商是如何確定SSD可靠率的。首先，SSD必須保證一定的容量，因此不可能把很多區塊（blocks）用於OP空間之類，這樣做會降低用戶的可用容量。第二，SSD必須達到規定的UBER及FFR指標，下面的表格解釋了UBER和FFR的含義，前者是SSD讀取字節中出錯的字節比例，FFR則是功能失效的比例，消費級及企業級SSD在這兩個指標上有不同的要求，消費級SSD的UBER是10-15，也就是1/1015的字節讀取失敗率，FFR不能高於3%。
最後一點就是SSD不通電狀態下要達到JEDEC規定的數據保存率，消費級SSD是30°C溫度下1年，企業級是40°C下三個月。
以上指標最後都是用TBW來表示，這也就是我們看到的SSD標識中數據寫入量的意義，比如100TB數據寫入壽命，這意味著在寫入100TB數據時其指標也能達到上述要求。
這個表格來自Intel
溫度確實也會對SSD的數據保存造成影響，從Intel給出的消費級SSD關機溫度及活動溫度下的保存時間來看，40°C活動溫度、30°C關機溫度下SSD的數據保存時間是52周，也就是一年。關機溫度越高，SSD數據保存時間就會越短，活動溫度25-30°C但關機溫度55°C時，SSD保存數據的時間就只有1周了，這就是之前的謠言中“數據保存時間只有幾天”的來源了，這種情況確實會發生，但根本不具有代表性。
現實中55°C的關機溫度幾乎不可能（PS：如果真有這樣的情況我，覺得這時候應該先關心自己的人身安全而非數據安全了），因為大部分SSD還是在室溫環境下使用，溫度通常都在30°C以內。活動時的溫度通常是40°C左右，系統內其他部件也會產生熱量的。
最後從技術上解釋下這個數據保存的問題。半導體的導電性跟溫度息息相關，這對NAND閃存來說不是好消息，因為斷電之後電子理應不再移動，否則就會改變Cell單元的電荷。換句話說，隨著環境溫度的升高，電子會更快地從浮柵極逃離，最終會導致Cell單元的電壓狀態改變，導致數據不可讀。（也就是SSD不能再保存數據）
活動狀態下則是另一回事，更高的溫度會硅基導電性更高，P/E操作過程中電流量更高，隧道氧化層的壓力更少，這會提高Cell單元的可靠性，因為SSD可靠性主要就是受限於隧道氧化層保持浮柵極中的電子的能力。（NAND的讀寫原理也可以參考我們之前的文章）
總之，在典型的SSD使用環境下，我們根本不需要擔心SSD的數據保留問題。前面的表格還只是通過了可靠性測試，全新的SSD數據保留率會更高，對MLC NAND閃存來說通常是10年。如果你買了一個SSD放著不用，那麼它直接被淘汰的可能性實際上比SSD不能保留數據的可能性更大。
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